光學(xué)與接觸式測(cè)量結(jié)合的性能表現(xiàn)
一套測(cè)量系統(tǒng)，多種選擇
Vicivision提供了全新的軸測(cè)量功能，將特定的光學(xué)技術(shù)方法與接觸式探針測(cè)量系統(tǒng)相結(jié)合。
光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)由遠(yuǎn)心透鏡、光源、旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)和傳感器組成，多年來(lái)為數(shù)百個(gè)軸類零件生產(chǎn)商提供了廣泛的測(cè)量。
如今，光學(xué)和接觸式測(cè)量功能的結(jié)合使得一個(gè)旋轉(zhuǎn)工件的全部測(cè)量控制只需一個(gè)周期。
測(cè)量系統(tǒng)現(xiàn)如今配備了一根雷尼紹掃描探針，安裝在光源頂部。探針可更換并能覆蓋整個(gè)長(zhǎng)度區(qū)域。
當(dāng)光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)快速提供靜態(tài)、幾何和螺紋測(cè)量、形狀和螺母測(cè)量時(shí)，接觸系統(tǒng)則檢測(cè)光學(xué)測(cè)量不了的特征。
光學(xué)與接觸的結(jié)合為最終用戶提供的測(cè)量選項(xiàng)：
軸向跳動(dòng)和軸向全跳動(dòng)
長(zhǎng)度

平面度

垂直度

鍵槽寬度

鍵槽深度

鍵槽長(zhǎng)度